JSM-IT700HR

Nowy skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) model JSM-IT700HR to narzędzie niezbędne w codziennej pracy współczesnego laboratorium. Dzięki innowacyjnym funkcjom znacznie upraszcza obserwację i analizę nanomateriałów, które są źródłem obecnego postępu technologicznego.

Nowe działo elektronowe daje możliwość obserwacji obrazów z wysoką rozdzielczością przestrzenną 1 nm oraz efektywne stosowanie wysokich prądów wiązki. Prąd wiązki jest regulowany płynnie w zakresie od kilku pA do 300 nA. Tak wysoki prąd wiązki jest osiągalny dzięki patentowi JEOL i nie ma wpływu na skrócenie życia emitera. Nowe działo elektronowe pozwala na łatwe zbieranie map X także przy niskim napięciu <5 kEV (unikalne w instrumentach JEOL). Nowy interfejs użytkownika umożliwia łatwą kontrolę warunków pracy i szybką akwizycję danych.
Mikroskop posiada dużą komorę na próbki z wieloma portami na akcesoria oraz - w wersji „LA” - wbudowany JEOL EDS. Łączy w sobie wysoką jakość obrazu jaką daje wiązka elektronowa generowana przez działo polowe, z prostotą i bezproblemowością obsługi znaną z naszych podstawowych instrumentów wolframowych.
IT700HR ze swoją dużą komorą preparatową i wysoką rozdzielczością obrazowania i analizy chemicznej stanowi doskonałą podstawę do stworzenia autonomicznego i zarazem wielofunkcyjnego laboratorium kompleksowej charakteryzacji nanomateriałów.

Wstęp

Film video prezentujący w skrócie działanie JSM-IT700HR

Zeromag i funkcje automatyczne

Powiększaj obraz optyczny i płynnie przejdź do obrazu SEM

Funkcja Zeromag radykalnie upraszcza nawigowanie próbką podczas prowadzenia obserwacji zarówno w małych jak i największych powiększeniach. Nadzoruje intuicyjne i płynne przechodzenie od obrazu optycznego* z kamery CCD podglądu próbki (skala mikro) do obrazu SEM (skala nano), i na odwrót.

_{* Dla wyświetlania obrazu optycznego niezbędna jest opcja Stage Navigation System (SNS).}

Wbudowany EDS i analiza na żywo (Live Analysis)

Połączenie obserwacji z analizą chemiczną

Analiza EDS przeprowadzana wprost na ekranie obserwacji SEM dla płynnego przechodzenia od obserwacji do analizy. Ponadto, analiza na żywo pozwala na bieżące monitorowanie widm charakterystycznego promieniowania X w czasie rzeczywistym.

SMILE VIEW^TM Lab

Szybki i łatwy do dostosowania sposób generowania raportów

SMILE VIEW™ Lab to oryginalne oprogramowanie firmy JEOL do zarzadzania danymi, które łączy wyniki obrazowania OM, SEM i analizy EDS.
Za jednym kliknięciem myszki w łatwy sposób wygenerować można raport od razu po zakończeniu pomiarów.
Dostępna jest wersja off-line tego oprogramowania (opcja) dla odciążenia instrumentu SEM i zwiększenia efektywności pracy.

Wyświetlanie informacji o głębokości generowania sygnału

Wbudowana nowa funkcja wyświetlania głębokości skąd generowany jest dany sygnał. Obserwacja głębokości analizy w badanej próbce jest istotna dla zrozumienia uzyskiwanych wyników analizy chemicznej.

Automatyczne centrowania wiązki (Auto Beam Alignment, ABA)

Ta funkcja koryguje oś optyczną wiązki elektronowej w sposób w pełni automatyczny.

Obserwacja i analiza dużego pola powierzchni z użyciem funkcji automatycznego sklejania obrazów

Inicjowanie fotomontażu z użyciem Zeromag

Wynik fotomontażu 6×6 obrazów (po lewej: Obraz BSE, po prawej mapa rtg dla Cu)
Próbka: Przekrój poprzeczny przez mosiężną śrubę*, Napięcie przyspieszające: 20 kV, Tryb niskiej próżni (20 Pa), Pole obrazu: 6.4 mm × 4.8 mm
* Płaski przekrój wykonany przy pomocy ścieniarki jonowej IB-19530CP Cross Section Polisher po polerowaniu mechanicznym.
Fotomontaż to funkcja sklejania wielu obrazów cząstkowych z całej powierzchni w celu uzyskania jednego obrazu o dużej rozdzielczości.
To bardzo przydatna funkcja dla uzyskania dokładnej informacji na polu o dużej powierzchni.

Specyfikacja instrumentu może ulec zmianie bez powiadomienia.