Project Description

Opis instrumentu

Nowy skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) model JSM-IT700HR to narzędzie niezbędne w codziennej pracy współczesnego laboratorium. Dzięki innowacyjnym funkcjom znacznie upraszcza obserwację i analizę nanomateriałów, które są źródłem obecnego postępu technologicznego.

Nowe działo elektronowe daje możliwość obserwacji obrazów z wysoką rozdzielczością przestrzenną 1 nm oraz efektywne stosowanie wysokich prądów wiązki. Prąd wiązki jest regulowany płynnie w zakresie od kilku pA do 300 nA. Tak wysoki prąd wiązki jest osiągalny dzięki patentowi JEOL i nie ma wpływu na skrócenie życia emitera. Nowe działo elektronowe pozwala na łatwe zbieranie map X także przy niskim napięciu <5 kEV (unikalne w instrumentach JEOL). Nowy interfejs użytkownika umożliwia łatwą kontrolę warunków pracy i szybką akwizycję danych.
Mikroskop posiada dużą komorę na próbki z wieloma portami na akcesoria oraz - w wersji „LA” - wbudowany JEOL EDS. Łączy w sobie wysoką jakość obrazu jaką daje wiązka elektronowa generowana przez działo polowe, z prostotą i bezproblemowością obsługi znaną z naszych podstawowych instrumentów wolframowych.
IT700HR ze swoją dużą komorą preparatową i wysoką rozdzielczością obrazowania i analizy chemicznej stanowi doskonałą podstawę do stworzenia autonomicznego i zarazem wielofunkcyjnego laboratorium kompleksowej charakteryzacji nanomateriałów.

Wstęp

Film video prezentujący w skrócie działanie JSM-IT700HR

For privacy reasons YouTube needs your permission to be loaded.
I Accept

Kliknij przycisk „replay” żeby rozpocząć odtwarzanie (ok. 1,5 minuty)

Zeromag i funkcje automatyczne

Powiększaj obraz optyczny i płynnie przejdź do obrazu SEM

For privacy reasons YouTube needs your permission to be loaded.
I Accept

Kliknij przycisk „replay” żeby rozpocząć odtwarzanie (ok. 1,5 minuty)

Funkcja Zeromag radykalnie upraszcza nawigowanie próbką podczas prowadzenia obserwacji zarówno w małych jak i największych powiększeniach. Nadzoruje intuicyjne i płynne przechodzenie od obrazu optycznego* z kamery CCD podglądu próbki (skala mikro) do obrazu SEM (skala nano), i na odwrót.

* Dla wyświetlania obrazu optycznego niezbędna jest opcja Stage Navigation System (SNS).

Wbudowany EDS i analiza na żywo (Live Analysis)

Połączenie obserwacji z analizą chemiczną

For privacy reasons YouTube needs your permission to be loaded.
I Accept

Kliknij przycisk „replay” żeby rozpocząć odtwarzanie (ok. 2 minuty)

Natychmiastowa analiza, Łatwy mapping EDS, lista pierwiastków
Analiza EDS przeprowadzana wprost na ekranie obserwacji SEM dla płynnego przechodzenia od obserwacji do analizy. Ponadto, analiza na żywo pozwala na bieżące monitorowanie widm charakterystycznego promieniowania X w czasie rzeczywistym.

SMILE VIEWTM Lab

Szybki i łatwy do dostosowania sposób generowania raportów

For privacy reasons YouTube needs your permission to be loaded.
I Accept

Kliknij przycisk „replay” żeby rozpocząć odtwarzanie (ok. 1 minuty)

oprogramowanie firmy JEOL do zarzadzania danymi

SMILE VIEW™ Lab to oryginalne oprogramowanie firmy JEOL do zarzadzania danymi, które łączy wyniki obrazowania OM, SEM i analizy EDS.
Za jednym kliknięciem myszki w łatwy sposób wygenerować można raport od razu po zakończeniu pomiarów.
Dostępna jest wersja off-line tego oprogramowania (opcja) dla odciążenia instrumentu SEM i zwiększenia efektywności pracy.

Wyświetlanie informacji o głębokości generowania sygnału

For privacy reasons YouTube needs your permission to be loaded.
I Accept

Kliknij przycisk „replay” żeby rozpocząć odtwarzanie (ok. 1 minuty)

Automatyczne wyświetlanie warunków roboczych

Wbudowana nowa funkcja wyświetlania głębokości skąd generowany jest dany sygnał. Obserwacja głębokości analizy w badanej próbce jest istotna dla zrozumienia uzyskiwanych wyników analizy chemicznej.

Automatyczne centrowania wiązki (Auto Beam Alignment, ABA)

For privacy reasons YouTube needs your permission to be loaded.
I Accept

Kliknij przycisk „replay” żeby rozpocząć odtwarzanie (ok. 1,5 minuty)

Automatyczne centrowania wiązki

Ta funkcja koryguje oś optyczną wiązki elektronowej w sposób w pełni automatyczny.

Obserwacja i analiza dużego pola powierzchni z użyciem funkcji automatycznego sklejania obrazów

Inicjowanie fotomontażu z użyciem Zeromag

Obraz BSE, mapa rtg dla Cu

Wynik fotomontażu 6×6 obrazów (po lewej: Obraz BSE, po prawej mapa rtg dla Cu)
Próbka: Przekrój poprzeczny przez mosiężną śrubę*, Napięcie przyspieszające: 20 kV, Tryb niskiej próżni (20 Pa), Pole obrazu: 6.4 mm × 4.8 mm
* Płaski przekrój wykonany przy pomocy ścieniarki jonowej IB-19530CP Cross Section Polisher po polerowaniu mechanicznym.
Fotomontaż to funkcja sklejania wielu obrazów cząstkowych z całej powierzchni w celu uzyskania jednego obrazu o dużej rozdzielczości.
To bardzo przydatna funkcja dla uzyskania dokładnej informacji na polu o dużej powierzchni.

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

Specyfikacja instrumentu może ulec zmianie bez powiadomienia.

Pobierz notatkę aplikacyjną

Nanomaterials, electronic products, metals, soft materials, food, biology