Project Description

Opis instrumentu

Model JSM-IT500 to reprezentant kolejnej, trzeciej i szczególnie innowacyjnej generacji mikroskopów SEM serii In-Touch-Scope.

Zaprojektowany z myślą o maksymalnym uproszczeniu obsługi, z nowym intuicyjnym interfejsem, automatycznym i płynnym przechodzeniem od przeglądowego obrazu z kamery optycznej do wysokorozdzielczych obserwacji elektronomikroskopowych oraz akwizycją danych analizy chemicznej EDS na bieżąco podczas prowadzenia takich obserwacji – dzięki integracji układów SEM i EDS JEOLa na poziomie dotychczas niespotykanym nigdzie indziej.

Krótki film video prezentujący nowe możliwości JSM-IT500

For privacy reasons YouTube needs your permission to be loaded.
I Accept

Kliknij żeby rozpocząć odtwarzanie (ok. 2 minuty).

Trzy kluczowe cechy mikroskopu JSM-IT500 umożliwiające łatwiejszą i szybszą analizę:

Zeromag
Obraz optyczny próbki z kamery CCD staje się punktem odniesienia i pozwala na wygodne przeglądanie jej powierzchni bez gubienia się. Dzięki temu systemowi (który jest podobny do GPS w samochodzie) analiza próbki jest szybsza i bardziej wydajna. Oszczędność czasu jest oczywista.

Analiza chemiczna EDS w czasie rzeczywistym
W trybie „Live Analysis” w pełni zintegrowany układ EDS wyświetla na ekranie, w czasie rzeczywistym widmo chemiczne i listę wykrytych pierwiastków.

Zintegrowane oprogramowanie do zarządzania danymi
To oprogramowanie pozwala jednym kliknięciem myszy wybrać obraz i dane EDS aby wygenerować automatyczny raport

Zeromag - prawdziwa integracja OM i SEM

Zeromag to funkcja rewolucyjnie upraszczająca nawigowanie próbką podczas prowadzenia obserwacji zarówno w małych jak i największych powiększeniach. Nadzoruje intuicyjne i płynne przechodzenie od obrazu optycznego (OM) z kamery CCD podglądu próbki (skala mikro) do obrazu SEM (skala nano), i na odwrót.

Navigation sur l'échantillon de l'image

Z wykorzystaniem funkcji Zeromag bardzo duże pola mogą być analizowane w sposób automatyczny. Zarówno przy zbieraniu obrazu elektronowego jak i obrazu rentgenowskiego (mapy EDS).

Photo Montage avec le Zeromag électrons rétrodiffusés image de composition Cartographie X du Calcium. Echantillon : béton

Po lewej: Fotomontaż z użyciem Zeromag.
W środku: Rezultat fotomontażu – sklejenie 4 x 4 obrazów BSE w trybie kompozycyjnym
Po prawej: mapa rentgenowska (dla wapnia).
Próbka: beton. Pole obserwacji: ok. 4 mm x 3 mm.

Przy użyciu funkcji Zeromag można także łatwo zainicjować proces fotomontażu dla całej powierzchni próbki i uruchomić proces akwizycji danych bez udziału operatora, po godzinach pracy lub w porze lunchu.

Analiza EDS w czasie rzeczywistym (Live Analysis)

W pełni wbudowany własny system EDS JEOLa - po raz pierwszy umożliwia zbieranie danych EDS w czasie rzeczywistym podczas obserwacji obrazu. W ten sposób można łatwo znaleźć oczekiwane pierwiastki, natomiast te nieoczekiwane szybko przeanalizować.

① Pierwiastki chemiczne.
Istnieje możliwość włączenia alertu dźwiękowego sygnalizującego moment wykrycia konkretnego pierwiastka.

② Widmo.
Wyniki analizy jakościowej na bieżąco i stale wyświetlane na ekranie.

③ Pozwala na wybór punktów analizy, pola mapowania lub linii skanu liniowego bezpośrednio na obserwowanym na żywo obrazie SEM

Oprogramowanie do zarządzania danymi: SMILE VIEW™ Lab, automatyczne generowanie raportów

SMILE VIEW™ Lab to wbudowane oprogramowanie do automatycznego zarządzania uzyskanymi i powiązanymi dla konkretnych współrzędnych danymi, takimi jak obrazy CCD, obrazy SEM i wyniki analizy EDS w celu szybkiego wygenerowania raportu lub przywołania wykonanych wcześniej analiz.

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

Od 5x do 300 000x (zdefiniowane dla formatu 128 mm x 96 mm)

3 nm przy 30 kV, 15 nm przy 1 kV, 8 nm przy 3 kV,
Uwaga: rozdzielczość jest tu zdefiniowana przez kryterium rozdzielenia dwóch cząstek złota na obrazie, a nie jako wynik automatycznego obliczenia przez oprogramowanie bazujące na „kryteriach krawędziowych”.

Detektor elektronów wtórnych z dużym katem bryłowym.
Detektor elektronów wstecznie rozproszonych – typ NIP (patent JEOL)

Wysoka i niska próżnia

Goniometryczny, eucentryczny
X=125mm, Y=100mm, Z=5mm-80mm
R=n x 360°
Tilt -10/+90°

Średnica próbki do 200 mm

Do wyboru: z laptopa, komputera PC z ekranem dotykowym lub z użyciem iPad™

Zintegrowany detektor SDD (w wersji „LA”)

Specyfikacja instrumentu może ulec zmianie bez powiadomienia.

Pobierz notatkę aplikacyjną

What is magnification ?

GALERIA