Project Description

Opis instrumentu

Seria mikroskopów skaningowych JEOL InTouchScope wzbogaciła się o nowy model. JSM-IT200 to błyskawiczne obrazowanie, analiza i raport. Obsługa najprostsza z możliwych i szybkie efekty pracy w bardzo atrakcyjnej cenie zakupu.

Ten nowy instrument umożliwia prowadzanie obserwacji w skali makro (obraz optyczny z kamery CCD) i w skali nano (obraz SEM) z całkowicie płynnym przejściem pomiędzy nimi, przy czym w każdej chwili dane analizy chemicznej (EDS) z obszaru obserwacji wyświetlane są na bieżąco i w czasie rzeczywistym na ekranie mikroskopu. Wbudowane funkcje automatyczne umożliwiają - w kilku kliknięciach myszki - uzyskanie obrazu i widma oraz stworzenie profesjonalnego raportu.
Obok wysokiej zdolności rozdzielczej obrazowania (na szczególne pokreślenie zasługuje jakość obrazów w niskich napięciach przyspieszających (1 kV) dla odwzorowania najbardziej subtelnych form powierzchni), o wybitnej funkcjonalności modelu JSM-IT200 decydują opisane poniżej trzy wyjątkowe cechy główne, sprawdzone już i wzięte od „dużego” brata JSM-IT500:

 Navi interaktywny przewodnik po obsłudze instrumentu

Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) JEOL JSM-IT200 navi - interaktywny przewodnik

Wbudowana aplikacja, która krok po kroku przeprowadza użytkownika przez wszystkie kolejne etapy eksperymentu, począwszy od włożenia próbki, ustawienia optymalnych parametrów pracy i na automatycznym zebraniu obrazu skończywszy.

 Zeromag: błyskawiczna obserwacja!

Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) JEOL JSM-IT200 zeromag - błyskawiczna obserwacja

Funkcja Zeromag w działaniu na ekranie monitora (kolejne etapy płynnego przejścia).

Live Analysis: błyskawiczna mikroanaliza!

Widmo charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego dla pierwiastków występujących w badanym obszarze wyświetlane jest na bieżąco w czasie rzeczywistym.
To unikalna cecha, tylko w mikroskopach InTouchScope JEOLa!

Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) JEOL JSM-IT200 live analysis - błyskawiczna mikroanaliza

SMILE VIEW ™ Lab: oprogramowanie do zarządzania danymi.
Tworzenie raportu za jednym kliknięciem myszki!

Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) JEOL JSM-IT200 smile view - oprogramowania

CECHY

Od 5x do 300 000x (zdefiniowane dla formatu 128 mm x 96 mm)

Detektor elektronów wtórnych z dużym katem bryłowym.
Detektor elektronów wstecznie rozproszonych – typ NIP (patent JEOL)

Goniometryczny, eucentryczny
X=80 mm, Y=40 mm, Z=5 mm - 48 mm
R=n x 360°
Tilt -10/+90°

Średnica próbki do 150 mm

Do wyboru: z laptopa, komputera PC z ekranem dotykowym lub z użyciem iPad™

Zintegrowany detektor SDD (w wersji „LA”)

Dane techniczne tego produktu mogą ulec zmianie bez powiadomienia.

Pobierz notę aplikacyjną.

What is magnification ?

Czytaj więcej

Wprowadzenie na rynek nowego JSM-IT200 InTouchScope™

GALERIA