IB-19530CP Polerka przekrojowa

Le Cross Section Polisher (ou CP) est un équipement pour la préparation d'échantillons pour les MEB, les microsondes de Castaings (EPMA) ou encore les microsondes Auger.

Le CP est un polisseur ionique qui vous permettra de préparer tous les types d'échantillons : qu'ils soient durs, mous, en multicouches de ductilité différentes, ils seront tous très aisément préparés en préservant les structures et sans artefacts de polissage.
Son faisceau d'Argon, couplé à de nombreuses innovations JEOL brevetées polira des sections transverses de tous les types de matériaux sur de grandes surfaces.
Le faisceau ayant un angle d'incidence extrêmement faible, l'argon ne s'implante pas à la surface de l'échantillon mais le poli proprement en le laissant vierge de tout artefact.

Avec le CP, obtenir une surface "miroir" est désormais facile et automatique ! Et ceci même sur des matériaux difficiles à polir comme des matériaux mous types cuivre, aluminium, polymères ou comme les matériaux durs type céramique ou verre.

Grâce à la caméra intégrée, vous pourrez placer votre échantillon avec une excellente précision pour avoir toujours l'assurance de réussir votre préparation.

Pour de plus amples informations sur le dépôt de carbone interne au CP, sur la tension d’accélération des ions, sur le calcul de la vitesse d’érosion, sur le porte-objet rotation, veuillez contacter nos services : javary@jeol.fr

Les caractéristiques de ce produit peuvent changer sans notification.