Project Description

Opis instrumentu

JEOL Ltd. wprowadził na rynek całkowicie nową, innowacyjną klasę transmisyjnych mikroskopów elektronowych 20 - 200 kV: wielozadaniowe TEM z zimną katodą i bez korekcji aberracji.

Potrzeby badaczy niezmiennie rosną. JEOL stale rozwija swój sprzęt, aby jak najlepiej odpowiedzieć na rosnące wymagania. Bazując na swoim bogatym i wieloletnim doświadczeniu w opracowywaniu techniki zimnej emisji polowej dla swojej gamy korygowanych mikroskopów serii ARM, JEOL zdecydował się zaoferować nowy TEM, tym razem bez korekcji aberracji, ale zawierający jego słynną zimną katodę.
W istocie, zimna emisja jest jedynym źródłem elektronów, które umożliwia bezkompromisowe połączenie małych rozmiarów wiązki elektronowej, wysokiej jasności i bardzo niskiego rozmycia energetycznego.
Mikroskop F2 umożliwia integrację bardzo szerokiej gamy akcesoriów: kamer (CCD, CMOS, detekcja bezpośrednia elektronów, itp.), EDS z bardzo dużym katem bryłowym, EELS, dyfrakcji z precesją elektronów, środowiskowych uchwytów próbek do badań in-situ (krio, gaz, ogrzewanie, ciecz itp.), by wymienić tylko niektóre.

W czasie 21-ej Konferencji Klimatycznej uzgodnione zostały limity odnośnie poziomu emisji dwutlenku węgla, w związku z czym konieczne jest wprowadzanie niezbędnych modyfikacji i rozwiązań technicznych spełniających nowe warunki. Instrumenty TEM z zimną emisją wyróżniają się 5-cio krotnie niższą emisją dwutlenku węgla niż mikroskopu ze źródłem Schottky'ego.

Film video prezentujący w skrócie działanie JEM-F200

For privacy reasons YouTube needs your permission to be loaded.
I Accept

Kliknij przycisk „replay” żeby rozpocząć odtwarzanie (ok. 4 minuty)

Główna charakterystyka

Działo elektronowe z zimną emisją polową (ulepszona konstrukcja)
Mikroskop F2 wyposażony jest w takie samo działo elektronowe z zimną emisją nowej generacji, jakie opracowane zostało dla najnowszych mikroskopów serii ARM firmy JEOL. W porównaniu z katodą Schottky’ego źródło to zapewnia znacznie wyższą jasność, mniejszy rozmiar wiązki elektronowej, mniejsze rozmycie energetyczne oraz charakteryzuje się dłuższym czasem życia.

Podwójny EDS (kąt bryłowy 1,7 sr)
Taki kąt bryłowy układu EDS z podwójnym detektorem firmy JEOL jest dwukrotnie większy niż w innych mikroskopach TEM oferowanych obecnie z wielodetektorową konfiguracją EDS.. Umożliwia bardziej skuteczne stosowanie bardzo małych prądów wiązki, badanie materiałów wrażliwych na zniszczenie radiacyjne, kilkusekundowe mapowanie, analizę pierwiastków lekkich oraz mapowanie w skali atomowej.

Wygląd!
Firma JEOL dołożyła szczególnych starań aby mikroskop F2 był nie tylko funkcjonalnie bardzo zaawansowanym ale także pięknym narzędziem, dającym satysfakcję i przyjemność w codziennej pracy. Zastosowana tu nowa koncepcja estetyczna urzeczywistniona została z jednoczesnym wzmocnieniem stabilności parametrów elektrycznych i mechanicznych, co było niezbędne dla uzyskania najwyższych rozdzielczości oferowanych przez instrument z zimną emisją polową.
Dużo uwagi poświęcono również sprawie ergonomii. F2 to instrument, który będzie mógł być wygodnie i bez zmęczenia obsługiwany przez użytkowników o różnych cechach fizycznych.

Cztery soczewki kondensora
Czterosoczewkowy kondensor zapewnia dużą elastyczność w zarządzaniu kątem zbieżności wiązki oraz średnicą plamki. Użytkownik ma pełną swobodę w prowadzeniu badań w TEM/STEM we wszystkich trybach pracy i innych najbardziej unikalnych eksperymentów.

Zaawansowany system skanowania
Mikroskop F2 zawiera nowy system skanowania wiązką elektronową. System ten pozwala na stosowanie techniki STEM / EELS także w trybie małego powiększenia (opcja).

Mechanizm przesuwu próbki Pico
Mechanizm przesuwu próbki w mikroskopie F2 umożliwia precyzyjne przemieszczanie próbki z krokiem mierzonym w skali pikometrowej. Dzięki kontrolowanej prędkości przesuwu w zależności od zastosowanego powiększenia próbkę można przesuwać szybko przy małym powiększeniu i wolniej/dokładniej przy dużym powiększeniu.

SPECPORTER (automatyczne wprowadzenie uchwytu próbki)
Wprowadzanie/wyprowadzanie uchwytu próbki odbywa się automatycznie, eliminując w ten sposób ryzyko przecieku próżniowego, a tym samym uniknięcie ewentualnej niesprawności mikroskopu. Obawa często towarzysząca wkładaniu i wycofywaniu uchwytu to już przeszłość.

Przyjazny dla środowiska
F2 jako pierwszy spośród wszystkich transmisyjnych mikroskopów elektronowych oferuje specjalny tryb ECO oszczędzania energii. Tryb ECO ma na celu utrzymanie optymalnych dla mikroskopu warunków na minimalnym poziomie zużycia energii wtedy gdy nie jest on używany.
Tryb ECO może zmniejszyć zużycie energii do około 1/5 wartości w porównaniu z normalnym trybem pracy. Funkcje trybu ECO są programowalne.

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

W trybie TEM (punktowa): 0,19 nm (nabiegunnik UHR)
W trybie STEM-HAADF : 0,14 nm

Polowe z zimną emisją lub z emiterem Schottky (do wyboru)

Specyfikacja instrumentu może ulec zmianie bez powiadomienia.

Pobierz notatkę aplikacyjną

Analysis of asbestos. Distinguishing fine fiber one by one

GALERIA